400-003-5559
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測量環境條件對量測結果的影響，貼片陶瓷電容(X7R/X5R/Y5V)系列產品被稱為非溫度補償性元件,即在不同的工作溫度環境下,電容量會有比較顯著的變化，在不同的工作溫度下，電容標稱容值與實際容值之間的差異。例如，在40℃時的測試容量將比25℃時的測試容量低了接近20%。由此可以看出，在外部環境溫度比較高的情況下,電容容值的測試值就會顯的偏低。我們通常建議放置在20℃的環境下一段時間,使材料處于穩定的測試環境下再進行容值測試。
MLCC產品材料老化現象材料老化是指貼片電容的容值隨著時間降低的現象，這再所有以鐵電系材料做介電質的材料產品中均有發生，是一種自然的不可避免的現象。原因是因為內部晶體結構隨溫度和時間產生了變化導致了容值的下降，屬于可逆現象。當對老化的材料施加高于材料居里溫度段時間后(建議進行容值恢復所使用之條件為150℃/1hour)，當環境溫度恢復到常溫后(常溫25℃下放置24小時),材料的分子結構將會回到原始的狀態。材料將由此開始老化的又一個循環，貼片電容的容值將恢復到正常規格之內。
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